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    測試服務

    半導體芯片的復雜性正在迅速增加,需要更加先進的測試系統和能力。長電科技為客戶提供全套測試平臺和工程服務,以支持各種混合信號、射頻 (RF)和毫米波、模擬和高性能數字半導體器件。長電科技的全面一站式測試服務,包括中道晶圓測試、后道封裝功能測試和系統級測試,為客戶提供更優化的測試流程和成本、更高的生產效率、更短的設計驗證周期,和更優的庫存管理與周轉。

    長電測試服務的優勢

    通過位于全球的工廠,長電科技提供全面集成式的測試服務和功能,包括:

    • 前端測試開發服務和測試咨詢服務
    • 晶圓測試,包括測試凸塊晶圓和已知合格芯片 (KGD) 解決方案,用于將堆疊芯片組裝到單一封裝中
    • 采用先進的測試技術和測試過程的自動控制,對簡單和先進封裝進行最終測試,將良率損失限制在芯片自身的硬故障上
    • 一整套優化的后期測試服務,快速將最終產品快速交付給終端客戶
    • 全面的系統級測試,提供超高的吞吐量和更低的測試成本

    長電科技將運營效率與其成熟的能力和競爭力結合,大幅降低測試成本 (COT),提供更高的產量。
    通過在產品開發過程的早期與長電科技合作,客戶將收益于長電科技的經驗和指引,從而實現可預測的快速順利量產。

    測試服務項目
    • 測試平臺

    • 晶圓分揀

    • 測試開發服務

    • 射頻測試

    • 混合信號測試

    • 存儲器測試

    • 高端數字測試

    • 整條測試

    • 成品測試

    • 終端測試

    • 測試管理系統

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